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半导体行业制氮机

氮气是半导体工厂消耗量大的工艺气体,贯穿晶圆制造(前道)、封装测试(后道)、化合物半导体、辅助公用系统全链条,主要作用:惰性保护、腔体吹扫、载气稀释、晶圆吹干、隔绝氧水汽,避免硅片、薄膜、金属层氧化污染,保障芯片良率

产品参数/ Product parameter

氮气是半导体工厂消耗量大的工艺气体,贯穿晶圆制造(前道)、封装测试(后道)、化合物半导体、辅助公用系统全链条,主要作用:惰性保护、腔体吹扫、载气稀释、晶圆吹干、隔绝氧水汽,避免硅片、薄膜、金属层氧化污染,保障芯片良率


变压吸附制氮装置工艺流程图

HBFD系列技术指标

型号

产气量

原料气

产品气氮气

Nm³/h

压力

常压露点℃

残油量(ppm)

常压露点℃

纯度(%)

压力

温度

(mpa)

(mpa)

HBFD98

1-5000

0.7-1.0

≤-17

≤0.003

≤-40
≤-60
(更低可定制)

≥98

0.6-0.9

环境温度

HBFD29

≥99

HBFD295

≥99.5

HBFD39

≥99.9

HBFD49

≥99.99

HBFD59

≥99.999



行业应用范围场景

一、晶圆前道制造场景

  • 清洁与刻蚀工艺‌:氮气作为载体气体,精准控制刻蚀过程,避免材料过度去除或不足,在等离子体刻蚀中与氧气混合优化刻蚀剖面,提升器件精度,同时防止硅片氧化,保障表面纯净度。
  • 薄膜沉积(CVD/PVD)‌:化学气相沉积环节,氮气作为稀释剂和反应载体,参与形成硅氮化物绝缘薄膜,提升器件可靠性;物理气相沉积环节,氮气作为载体让金属蒸气均匀沉积在晶圆表面,形成高粘附性薄膜。
  • 高温工艺保护‌:在退火、晶圆键合等1000℃以上的高温环节,氮气填充反应腔,隔绝氧气和水分,避免材料氧化,保障晶圆性能稳定。
  • 光刻与吹扫干燥‌:光刻工序中氮气维持腔体惰性环境,避免感光材料氧化;晶圆清洗后用高纯氮气吹干表面溶剂与水分,减少水渍缺陷。

二、芯片封装测试场景

  • 无铅焊接保护‌:氮气氛围减少焊点氧化,提升焊锡润湿性,消除虚焊、连锡等缺陷,降低焊接不良率。
  • 封装气氛防护‌:用氮气替代空气填充芯片封装腔体,降低湿度影响,抑制环氧树脂与氧气反应,将封装气泡率从0.5%降至0.02%,大幅提升产品长期稳定性。
  • 键合工序防护‌:金线/铜线键合过程中,氮气保护使金属引线氧化失效案例减少80%,焊接强度提升15%。
  • 成品测试与存储‌:测试工序中置换测试腔体气氛,稳定环境湿度与氧含量;晶圆、芯片存入氮气柜,避免湿敏元器件受潮氧化。

三、配套辅助场景

  • 设备温度控制‌:在光刻机等精密设备中,氮气辅助热量均匀分布,避免温度梯度导致的晶圆形变或对准误差。
  • 管路与腔体吹扫‌:清除设备管道、滤网及炉膛内的工艺残留物,降低系统氧含量和露点,维持生产环境洁净度。
  • 洁净车间压差维持‌:补充车间洁净用气,维持稳定正压,避免外部含尘、含氧空气侵入生产区域。
    适配半导体制造保护的制氮机,纯度覆盖95%~99.999%,支持全自动运行与定制化配置,可适配不同工段的用气需求。



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